手機(jī)老化房

·老化房（燒機(jī)房）ORT簡介

      老化房，又叫恒溫老化房/高溫老化房/燒機(jī)房，是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要生產(chǎn)流程，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥、安防、照明等領(lǐng)域。老化房通常由圍護(hù)系統(tǒng)、風(fēng)道系統(tǒng)、溫度控制系統(tǒng)、室內(nèi)測(cè)試架構(gòu)等組成。

·執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)
       GB11158高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；                     GB/T2423.2-2001高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法；
       IEC60068-2-2.1974高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法；  GJB150.3高溫試驗(yàn)；

·主要技術(shù)參數(shù)

      1)老化房內(nèi)尺寸:8.20(W)X4.20(D)X2.20(H)m   2套

      2)溫度范圍:常溫+5℃～55℃  

      3)單臺(tái)老化房內(nèi)可布置13臺(tái)老化測(cè)試架,一次性可老化8736臺(tái)手機(jī) ,2套老化房共老化17472臺(tái)手機(jī)。

      4)老化架主要參數(shù):

         (1)老化測(cè)試架尺寸：1800(L)*500(L)*H1590(H),mm；

         (2)老化測(cè)試架滿載一次性可老化672個(gè)產(chǎn)品；